한일 상표 전문가 서울 회동…AI 심사·공존동의 논의

지식재산처와 일본 특허청이 제21차 한·일 상표전문가회의를 열고 상표 심사 정책 현안을 논의한다.

15일 지식재산처에 따르면 이번 회의는 이날부터 16일까지 서울 강남구 한국지식재산센터에서 개최된다. 한·일 상표전문가회의는 양국 상표 실무자들이 상표법·제도, 심사기준 등 정책 전반의 경험을 공유하는 자리로 올해 21회째를 맞았다.

회의 첫날인 15일에는 상표권 공존동의, 지역단체상표, 식별력 판단 등 상표법 및 심사기준 관련 쟁점을 다룬다. 상품분류 현안과 세계 5대 상표 기관(TM5)에서의 협력 방안도 논의한다.

16일에는 상표심사에서의 인공지능(AI) 활용 방안이 주요 의제다. 양국은 도형·상표명 검색 등에 AI를 활용 중이며, 이번 회의에서 AI 모델 선정, 학습, 활용 결과 환류 등 현황과 계획을 공유할 예정이다.

남영택 지식재산처 상표디자인심사국장은 "양국 상표 실무자가 직접 만나 공통 현안에 대한 경험과 고민을 나누는 뜻깊은 자리"라며 "이번 회의를 통해 한·일 간 상표정책 및 제도 운영과 관련한 협력이 한층 강화되기를 기대한다"고 밝혔다.